Issue |
J. Chim. Phys.
Volume 87, 1990
|
|
---|---|---|
Page(s) | 461 - 480 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jcp/1990870461 | |
Published online | 29 May 2017 |
Application de la spectrométrie de photoémission d'électrons à l'étude in situ des interfaces métal/oxyde métallique/électrolyte. I. Etude méthodologique
Institut national polytechnique de Grenoble, Centre de recherche en électrochimie minérale et en génie des procédés, CNRS, unité associée 1212, BP 75, domaine universitaire, 38402 Saint-Martin-d'Hères, France
La méthode de spectrométrie de photoémission d'électrons est analysée de façon critique pour son utilisation à l'étude in situ des interfaces métal/oxyde métallique/électrolyte. La théorie de cette méthode a été développée en prenant en compte les possibilités de rétrodiffusion des électrons solvatés, les mécanismes de leur capture hétérogène et leurs conséquences sur la composition des couches superficielles. La mesure des coefficients multiplicateurs de Photocourants permet la description de l'interface moyennant la mise en évidence par ailleurs des transferts électroniques à l'obscurité
Abstract
The method of the electronic photoemission spectrometry is analysed for the studies of the metal/metal oxide/electrolyte interface. The theory of this method has been developed, taking into account the diffusion of the solvated electrons back to the surface, the mechanism of their heterogeneous trapping and the consequences on the composition of the surface layer. The measurement of the multipling effect of the photocurrent allows the description of the interface with the help of the observation of the dark charge transfer process with an other method.
© Elsevier, Paris, 1990