Issue |
J. Chim. Phys.
Volume 61, 1964
|
|
---|---|---|
Page(s) | 1324 - 1329 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jcp/1964611324 | |
Published online | 28 May 2017 |
Diffraction des rayons X et des électrons par les molécules
1
Laboratoire de Diffraction Electronique, Faculté des Sciences, Orsay, France.
2
Centre de Mécanique Ondulatoire Appliquée, Paris, France.
Une méthode de calcul des intensités de diffraction par les molécules diatomiques est développée dans le présent article. Tenant compte des effets de non-sphéricité des molécules et de l’existence d’une liaison entre les atomes qui la constituent, elle requiert la connaissance d’une fonction d’onde pour l’état fondamental de la molécule étudiée.
La modification des paramètres effectifs des orbitales atomiques et l’apparition de termes de recouvrement entre les orbitales des divers atomes, particulièrement importantes pour les petites molécules, traduisent alors l’effet de liaison.
Aux termes de recouvrement correspondent des facteurs de diffusion à deux centres qui ne peuvent être exprimés sous une forme comparable à celle des facteurs de diffusion atomiques. Il est cependant possible de calculer numériquement ces fonctions à partir des intégrales qui les définissent.
L’étude de ces facteurs de diffusion à deux centres sera complétée par une application numérique portant sur la molécule LiH.
© Paris : Société de Chimie Physique, 1964