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J. Chim. Phys.
Volume 90, 1993
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Page(s) | 1239 - 1265 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jcp/1993901239 | |
Published online | 29 May 2017 |
Attachement et bombardement électronique
Laboratoire des collisions atomiques et moléculaires, Unité de Recherche n° 281 associé au CNRS, université Paris-Sud, bât 351, 91405 Orsay Cedex, France.
Parmi les processus induits par impact d'électron sur une molécule, le processus d'attachement contrôle les transferts d'énergie entre l'électron et la molécule et produit des ions négatifs par fragmentation de l'ion négatif moléculaire intermédiaire formé. L'article porte essentiellement sur les mécanismes de formation d'ions négatifs par attachement dissociatif, en présentant les approches théoriques à la base de ces mécanismes et en les illustrant par quelques exemples (HCl, SF6)
Abstract
The various processes induced by electron impact on molecules are presented. This article focusses on the attachment process that dominates the energy transfer at low energy and produces negative ions. The molecular negative ion, formed by electron capture, evolves either by electron re-emission, leading to the excitation of the target molecule, or by dissociation, leading to the formation of a negative ion associated to a neutral fragment. Emphasis is placed on the dissociative attachment mechanisms. Two theoretical approaches are briefly presented that support two different mechanisms. The resonant mechanism involves a transient molecular negative ion and corresponds to the physical picture of a dissociative negative ion state coupled to a detachment continuum. The most efficient attachment processes proceed through a dynamical mechanism, corresponding to the physical picture of an electron directly capture in a bound negative ion state by the nuclear motion it induces. This mechanism is illustrated by some examples (HCl, SF6).
© Elsevier, Paris, 1993