Caractérisation du carbure de silicium par les techniques de la spectroscopie de pertes d’énergie d’électrons (EELS) en microscopie électronique par transmissionK Hssein, J Sevely, G Zanchi and Y KihnJ. Chim. Phys., 88 (1991) 2335-2340DOI: https://doi.org/10.1051/jcp/1991882335
