Étude de l’orientation et de la structure de films de sexithiophène (6T) déposés sur les surfaces de SiO2 et de SiH/SiP Lang, R Hajlaoui, JP Dallas, F Garnier, A Yassar and G HorowitzJ. Chim. Phys., 92 (1995) 967-970DOI: https://doi.org/10.1051/jcp/1995920967
