Distribution des états d’interface et centres piégés associés aux joints de grains dans du silicium polycristallin : effets des recuits thermiquesN M’Gafad, H Amzil and M PasquenelliJ. Chim. Phys., 88 (1991) 2211-2216DOI: https://doi.org/10.1051/jcp/1991882211
