Granulométrie du nickel déposé sur silice calculée par élargissement des raies de diffraction des rayons X, diffusion centrale des rayons X, microscopie électronique et méthodes magnétiques
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J. Chim. Phys., 69 (1972) 532-540
Published online: 28 May 2017
DOI: 10.1051/jcp/1972690532