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J. Chim. Phys.
Volume 86, 1989
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Page(s) | 1691 - 1698 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jcp/1989861691 | |
Published online | 29 May 2017 |
Elaboration and EXAFS characterization of amorphous MPS3 (M = Mn, Fe, Ni) thin films
1 Laboratoire de Spectrochimie des Eléments de Transition, CNRS U.A. 420, Bt. 420, Université Paris-Sud, 91405 Orsay, France ;
2 Laboratoire CNRS « Physique des Liquides et Electrochimie », ESPCI, 10 rue Vauquelin, 75231 Paris, and LURE (CNRS, CEA, MEN), Université Paris-Sud, 91405 Orsay, France.
Amorphous MPS3 (M = Un, Fe, Ni) thin films have been prepared by flash evaporation of the corresponding crystalline MPS3 materials. The films have been characterized by several complementary techniques including EXAFS at grazing angle. Results show that the structural arrangement of the amorphous films is similar to that of the crystalline parent materials with some deviations depending on the metal.
Résumé
Des films minces amorphes de matériaux MPS3 (M= Mn, Fe, Ni) ont été élaborés par évaporation flash de composés cristallins MPS3 correspondants. Les couches minces ont été étudiées par plusieurs techniques complémentaires en particulier par spectroscopie EXAFS à angle rasant. Les résultats montrent que l’arrangement structural dans les matériaux amorphes est très voisin de celui dans les composés MPS3 cristallins, avec toutefois de petites déviations dépendant du métal.
© Paris : Société de Chimie Physique, 1989