Étude EXAFS en polarisation de composés lamellaires

¹ Laboratoire de Physique Quantique (CNRS UA 421), E.S.P.C.I. 10, Rue Vauquelin, 75231 PARIS CEDEX 05, France ;
² Laboratoire de Physique des liquides et électrochimie (CNRS LP 15), E.S.P.C.I. 10, Rue Vauquelin, 75231 Paris Cedex 05, France ;
³ Laboratoire de Minéralogie-Cristallographie, Université Paris VI et VII, CNRS UA09, Tour 16, 4 place Jussieu, 75252 Paris, France.

Résumé

Dans les expériences d’absorption X, on peut mettre à profit le caractère polarisé du rayonnement synchrotron en faisant simplement varier l’orientation de l’échantillon lamellaire par rapport au faisceau incident. L’étude des seuils permet alors d’obtenir des informations sur les structures de bandes et l’EXAFS peut fournir des informations angulaires en plus de l’habituelle fonction de distribution radiale.

Abstract

In X-ray absorption experiments, polarization of synchrotron radiation can be turned to account in simply varying orientation of a lamellar compound sample in comparison with incident beam. Then, study of threshold gives informations about band structure and EXAFS provides angular informations added to usual radial distribution function.