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J. Chim. Phys.
Volume 64, 1967
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Page(s) | 706 - 707 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jcp/1967640706 | |
Published online | 28 May 2017 |
J. Chim. Phys., Vol. 64 (1967), pp. 706–707
Ionisation multiple du zinc par impact électronique de 250 à 2000 eV
Laboratoire de Chimie Physique, Faculté des Sciences à Orsay-91, France.
Les courbes d'ionisation de Zn5+ et Zn6+ montrent que ces ions sont formés par processus Auger, dont le seuil correspond respectivement à l'ionisation en couche 2p et en couche 2s. L'abondance de Zn6+ Auger est supérieure à 2 000 eV à l'abondance de Zn6+ produit par l'éjection directe de 6 électrons.
Abstract
The ionization curves of Zn5+ and Zn6+ show that these ions are formed by Auger process, whose threshold corresponds to the ionization in 2 p shell and 2 s shell respectively. At 2 000 eV the abundance of Zn6+ Auger is larger than the abundance of Zn6+ produced by the direct ejection of 6 electrons.
© Paris : Société de Chimie Physique, 1967