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J. Chim. Phys.
Volume 67, 1970
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Page(s) | 1848 - 1854 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jcp/1970671848 | |
Published online | 28 May 2017 |
N° 250. — Limitations théoriques et expérimentales a l’utilisation de la microscopie a émission ionique dans l’étude des états de surfaces métalliques,
(Institut de Recherches sur la Catalyse (CNRS) Département de Chimie-Physique, 39, boulevard du 11-Novembre-1918, 69, Villeurbanne.), France
Le principe de la microscopie à émission ionique est d’abord rappelé brièvement. La description de l'appareillage précède l’exposé des observations expérimentales effectuées avec des pointes en tungstène sous pression réduite d’hélium. L’influence sur l’image d’émission ionique de l'évaporation de champ, de la contamination par le gaz résiduel et d’un traitement thermique préalable est mise en évidence. Ces observations illustrent les difficultés de mise en œuvre de celle technique et ses limitations dans l’étude des phénomènes qui se produisent à la surface des métaux.
Abstract
The principle of field ion microscopy is briefly recollected. The description of the experimental set-up preceeds the account of the observations made on tungsten lips under reduced pressure of helium. The influence on the ion emission pattern of field evaporation, of a contamination by residual gas and of a thermal pretreatment is pointed out. All these observations show the difficulties encountered in this technique and its limits in the study of phenomena which are produced on the surface of metals.
© Paris : Société de Chimie Physique, 1970