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J. Chim. Phys.
Volume 73, 1976
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Page(s) | 176 - 180 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jcp/1976730176 | |
Published online | 29 May 2017 |
Étude de catalyseurs Ni/SiO2 : surface métallique déterminée par microscopie électronique et chimisorption de gaz
(CNRS, Institut de Recherches sur la Catalyse, 79, boulevard du 11-Novembre-1918, 69626 Villeurbanne. Cedex.), France.
Un catalyseur Ni/SiO2 avec des crislallites de nickel bien facettés et montrant une exposition préférentielle de plans cristallographiques a été comparé à un catalyseur Ni/SiO2 non orienté, l.a détermination de l’étal de surface de ces deux catalyseurs a été effectuée en utilisant à la fois la microscopie électronique et la chimisorption sélective de gaz. D'importantes informations complémentaires résultant de l’emploi simultané de ces deux techniques ont été ainsi obtenues.
Abstract
A nickel supported silica catalyst with well facetted nickel crystallites showing a preferential exposure of crystallographic planes has been prepared. Comparison of the surface state of this catalyst with a randomly oriented Ni/SiO2 catalyst with spherical particles has been attempted using both electron-microscopy and gas chemisorption. Attention has been brought on the importance of the complementary informations resulting of the use of the both methods.
© Paris : Société de Chimie Physique, 1976