Technique d'étude et mesure des variations de distance interplanaire de quelques composés d'insertion du graphite de 300 A 4,2 K

Laboratoire de C.M.A., L.A. 158, Université de Nancy I, BP 239, 54506 Vandoeuvre les Nancy Cedex, Laboratoire de cristallographie, ERA 841, Université d'Orléans, 45046 Orléans Cedex, France.

Résumé

Pour l'étude systématique des coefficients de dilatation thermiquedes composés d'insertion du graphite, nous avons mis au point une technique de diffraction des rayons X par transmission qui comporte un détecteur linéaire et un cryostat à circulation d’hélium. Nous avons mesuré la variation de lc de l'ambiante à 4,2 K des composés de premier stade avec les “donneurs d'électrons” : K, Rb, Cs, Ba, Yb, Eu, Li, de deuxième stade avec K, Rb, Cs, de quatrième stade avec le potassium, ainsi que ceux préparés à partir des “accepteurs” : AlCl₃, Ga Cl₃, Cd Cl₂, Co Cl₂ et SO₃.

Abstract

In order to carry out a systematic study of the coefficients of the smal expansion, we have developed a transmission X-Ray diffraction technique utilizing a linear detector and a helium circulation cryostat.

The variation in lc between room temperature and 4.2 K has been followed for the 1^st stage donor compounds for K, Rb, Cs, Ba, Yb, Eu, Li, 2^nd stage with K, Rb, Cs, and 4^tn stage with K, and for the first stage electron acceptor compounds containing AlCl₃, GaCl₃, CdCl₂, C0Cl₂ and SO₃.