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J. Chim. Phys.
Volume 85, 1988
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Page(s) | 413 - 416 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jcp/1988850413 | |
Published online | 29 May 2017 |
A sims study of the hydroxylation of (100) TiO2 surfaces influence of traces of fluorine
Laboratoire de Recherches sur la Réactivité des Solides Faculté des Sciences Mirande, B. P. 138 — Dijon cedex, France.
The influence of traces of fluorine on secondary ion emission of hydroxylated TiO2 (100) surfaces is studied. The kinetics of the hydroxylation reaction is greatly enhanced by fluorine. The saturation population of one hydroxyl is not modified by the presence of fluorine. At last fluorine modifies drastically the secondary ion emission especially that of negative ions.
Résumé
L’influence de traces de fluor sur l'émission ionique secondaire de surfaces (100) de TiO2 lors de leur hydroxylation est étudiée La cinétique de la réaction d’hydroxylation est très augmentée par le fluor. La population à saturation de l’un des hydroxyles n’est pas modifiée par la présence de fluor. Enfin le fluor modifie complètement l'émission ionique secondaire et ce surtout pour les ions négatifs.
© Paris : Société de Chimie Physique, 1988