| Issue |
J. Chim. Phys.
Volume 86, 1989
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| Page(s) | 1293 - 1302 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jcp/19898601293 | |
| Published online | 29 May 2017 | |
J. Chim. Phys., Vol. 86(1989), pp. 1293–1302
Soft x-ray spectroscopy as a method for studying chemical interactions at deep interfaces
Laboratoire de Chimie Physique, Université P. et M. Curie, Paris VI France
The advantages of soft X-ray emission spectroscopy induced by electrons (EXES) and characteristic isochromat spectroscopy (CIS) for the study of the occupied and empty densities of states at solid-solid interfaces are presented. Two examples are given.
Résumé
Les possibilités qu'offrent la spectroscopie d'émission des rayons X mous induite par électrons (EXES) et la spectroscopie d'isochromate caractéristique (CIS) pour l'étude des densités d'états occupés et vides aux interfaces solide-solide sont présentées. Deux exemples de telles études sont donnés.
© Paris : Société de Chimie Physique, 1989