| Issue |
J. Chim. Phys.
Volume 94, 1997
|
|
|---|---|---|
| Page(s) | 939 - 947 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jcp/1997940939 | |
| Published online | 29 May 2017 | |
Contribution to the thermodynamic study of the ruthenium-silicon system
1 1Institute of Inorganic and Analytical Chemistry, BCH, University of Lausanne, CH-1015 Lausanne, Switzerland.
2 Laboratory of Mineral Solid Chemistry, UR A 158, Metallurgical Thermodynamics Department, University Henri-Poincaré, Nancy 1, BP 239, F54506 Vandœuvre-iès-Nancy cedex, France.
The RuSi system has been revisited by means of differential thermal analysis (DTA), X-ray diffraction (XRD) and, electron probe microanalysis (EPMA). Enthalpies of formation of Ru0.57Si0.43, Ru0.5Si0.5 and, Ru0.4Si0.6, have been measured by high temperature calorimetry. Molar heat capacity of Ru0.5Si0.5 has been determined by differential scanning calorimetry' between 310 and 1080 K.
Résumé
Le diagramme Ruthénium-Silicium a été retracé à partir des études par analyse thermique différentielle, diffraction des rayons X et analyse par microsonde électronique. Les enthalpies de formation des phases intermédiaires Ru4Si3., RuSi et Ru2Si3 ont été déterminées par calorimétrie à chute. La capacité thermique molaire du composé Ru0.5Si0.5 a été mesurée tous les 10 K entre 310 et 1080K par calorimétrie différentielle à balayage.
Key words: Ru-Si system, Direct reaction calorimetry / differential scanning calorimetry / Differential thermal analysis (DTA) / X-ray diffraction (XRD) / electron probe microanalysis (EPMA) / metallography
Mots clés : Système Ru-Si / Calorimétrie de réaction / Calorimétrie à balayage / Differential thermal analysis / Analyse thermique différentielle / Diffraction de rayons X (XRD) / Microanalyse à la sonde (EPMA) / Métallographie.
© Elsevier, Paris, 1997