Issue |
J. Chim. Phys.
Volume 78, 1981
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Page(s) | 663 - 668 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jcp/1981780663 | |
Published online | 29 May 2017 |
Microanalyse quantitative des faibles concentrations
Faculté des Sciences et Techniques, Sfax B.P.W. Tunisie.
La microanalyse est basée sur l'expression de la concentration massique d'un élément dans une cible en fonction de l'intensité X émise par cet élément de la cible rapportée à celle qui est émise par un témoin pur. Nous décrivons une méthode permettant les mesures de faibles concentrations en utilisant les propriétés géométriques des microsondes actuellement disponibles.
Abstract
Microanalysis is based on the relationship between the mass concentration of an element in a specimen and the ratio of the intensity of an x ray line from the specimen to that from a pure standard. In order to detect and measure small concentrations in a sample, we describe a technique using the geometries of electron beam incidence angle and X ray take off angle existing in the available electron probe microanalyser.
© Paris : Société de Chimie Physique, 1981