The emission spectrum of SiBr : the (A-X) system

² Laboratoire de Chimie Générale, Parc de Grandmont, 37200, Tours France.
³ Laboratoire de Photophysique Moléculaire du C.N.R.S. (*) Université de Paris-Sud, Bâtiment 213, 91405, Orsay France.

Abstract

The vibrational analysis of the A-X system of SiBr has been corrected and extended. Five A²∑⁺ — X²Π_1/2 subbands have been rotationally analyzed. The simultaneous reduction of the B — X and A — X rotational data results in an accurate set of rotational constants for the B, A and X states. Revised vibrational parameters for the A state are given. The red degraded bands previously assigned to the B'² δ — X²Π system of SiBr are reassigned partly to the A — X system of SiBr and partly to the b³∑⁺-a³Π of SiO.

Résumé

L'observation de nouvelles bandes du système A-X de SiBr a permis de modifier et d'étendre l'analyse vibrationnelle et d'améliorer les constantes de vibration de l'état A. Cinq sous-bandes A²∑⁺—X²Π_1/2 ont pu être analysées rotationnellement. Le traitement par moindres carrés de ces données et de celles concernant le système B — X étudié précédemment conduit à la détermination d’un système de constantes moléculaires cohérentes et précises des états B, A et X. On montre que la plupart des bandes dégradées vers le rouge situées entre 4 150 et 4300 Å appartiennent au système A — X de SiBr ou b-a de SiO plutôt qu'au système B'²∆ — X²Π de SiBr.