Distributions électroniques aux interfaces solide-solide

Laboratoire de Chimie Physique Université Pierre et Marie Curie (Paris VI), France.

Résumé

Les informations qu’apporte l’analyse spectroscopique des niveaux de cœur et des états de valence pour la caractérisation des surfaces solides et des interfaces entre deux solides sont discutées sur des exemples. Les états occupés, qui sont seuls pris en compte dans cet exposé, sont étudiés, principalement, à l’aide de deux méthodes expérimentales : la photoémission qui est bien adaptée à l’observation des surfaces et des couches minces adsorbées; la spectroscopie d’émission X-UV stimulée par électrons qui permet la caractérisation des interfaces profondes. Les liens qui existent entre le déplacement énergétique des niveaux de cœur et les énergies de cohésion ou d’adhésion sont rappelés.

Abstract

Spectroscopie analysis of core levels and valence states suitable for characterizing solid surfaces and solid-solid interfaces are discussed with the help of various examples. Essentially two methods can be employed to study the occupied density of states (the only ones to be considered here) : photoemission spectroscopy for studying surfaces and thin adsorbed layers; X-UV emission spectroscopy induced by electrons for the characterization of deep interfaces. The relations between core level shifts and the cohesive or adhesive energies are reported.