Evidence of traces of Si on Pt samples by energy loss spectroscopy

Laboratoire de Catalyse et Chimie des Surfaces, Université Louis Pasteur de Strasbourg, 4, rue Biaise Pascal, 67070 Strasbourg, France.

Abstract

The high sensitivity of energy loss spectroscopy for detection of Si contaminated platinum surfaces and its superiority on Auger electron spectroscopy are demonstrated. The segregation of Si in Pt and the formation of Si-O bonds under oxygen exposure was followed.

Résumé

La haute sensibilité de la spectroscopie de pertes caractéristiques d’énergie pour la détection de Si contaminant des surfaces de platine est mise en évidence ainsi que sa supériorité sur la détection par spectroscopie des électrons Auger. Ce travail permet de suivre l’évolution de la dispersion du silicium dans le platine et la formation de liaisons de Si-O par exposition des échantillons à l’oxygène.