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J. Chim. Phys.
Volume 93, 1996
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Page(s) | 1209 - 1215 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jcp/1996931209 | |
Published online | 29 May 2017 |
Préparation de Pb0,85Co0,15F2 en couches minces par coévaporation thermique sous vide : études physico-chimiques, électriques et optiques
Laboratoire de génie électrique et optoélectronique, université IbnTofail, faculté des sciences, département de physique, Kénitra, Maroc.
Le composé Pb0.85Co0.15F2 en couches minces présentant un fond coloré a été préparé par coévaporation thermique sous vide (10-7 mbar) de PbF2 et de CoF2.
Une étude par diffraction X a montré l'existence d'une phase cubique de type fluorine dont le paramètre de maille est légèrement inférieur a celui de PbF2(β) de départ . Une amélioration du degré de cristallinité et de l'adhérence des couches en fonction de la température du substrat a été observée par microscopie électronique a balayage . La composition des couches obtenues par coévaporation a été déterminée par des études de diffusion Rutherford (RBS) . Des mesures des admittances complexes sous tension alternative à fréquences variables ont montré une importante conductivité ionique dans des couches minces étudiées L'analyse optique a mis en évidence l'existence des états électroniques du cobalt ainsi que leurs apparitions en fonction de la cristallinité de dépôts.
Abstract
Thin films with composition Pb0.85Co0.15F2 are prepared using the thermal coevaporation of PbF2 and CoF2. A complete study of these films has been performed. They have a fluorite-type structure and exhibit a good adherence on substrates. The unit-cell parameter is slightly lower than that of B-PbF2. The reproducibility of thin films has been confirmed by Rutherford BackScattering (RBS). The thin films show an important ionic conductivity. All bands of electronical transitions have been observed, and also their appear versus the crystallinity.
Mots clés : films minces / Pb1-xCoxF2 / évaporation thermique / diffraction / RBS / propriétés
Key words: thin films / Pb 1-xCoxF2 / thermal evaporation / diffraction / RBS / optical properties
© Elsevier, Paris, 1996