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J. Chim. Phys.
Volume 96, Number 3, March 1999
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Page(s) | 380 - 385 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jcp:1999144 |
Développement d'outils de mesure pour l'amélioration du procédé d'impression offset
Laboratoire de Génie des Procédés Papetiers, École Française de Papeterie et des Industries Graphiques, Domaine Universitaire, B.P. 65, 38402 Saint-Martin-d'Hères Cedex, France
The offset printing process rests primarily on the balance between ink and damping solution. However, this balance remains difficult to realize. The corresponding wastes of time and into consumable (ink, paper and damping solution) are harmful for the industrialist, the consumer and the environment. The main feature of this work is to control and thus to optimize these flux. With this intention, two optical sensors functioning in reflection were developed. A laser with receiving photodiode for the control of damping solution film thickness, and an optical fiber related to a photoelectric sensor for control of ink film thickness. The current study aims at the calibration of these two sensors for respectively the control of water and ink flux in the offset press.
Résumé
Le procédé d'impression offset repose essentiellement sur l'équilibre entre la solution de mouillage et l'encre. Toutefois, cet équilibre reste une tâche difficile à réaliser. Les pertes en temps et en consommables (encre, papier, solution de mouillage) correspondantes sont nuisibles à la fois pour l'industriel, le consommateur et l'environnement. L'objectif de ce travail est de contrôler et donc d'optimiser ces flux pour un tirage donné. Pour ce faire, deux capteurs de type optique fonctionnant en réflexion ont été développés. Un laser avec photodiode réceptrice pour le contrôle du film de solution de mouillage, et une fibre optique liée à un capteur photoélectrique pour le contrôle du film d'encre. L'étude actuelle vise la mise en ouvre et l'étalonnage de ces deux capteurs pour la mesure et le contrôle des films respectifs d'eau et d'encre dans la presse offset.
Key words: capteurs optiques, étalonnage, contrôle, environnement
© EDP Sciences, 1999