Caractérisation par analyse thermique différentielle de l’état amorphe des dépots de gallium obtenus par évaporation sous vide

Groupe de Recherche n° 4 du C.N.R.S. « Physique des Liquides et Électrochimie », associé à l'Université P. et M. Curie, 4, Place Jussieu, 75230 Paris Cedex 05., France.

Résumé

Les couches de gallium de plusieurs microns d’épaisseur déposées sur un support refroidi à environ 5 K ont une structure désordonnée. Nous montrons ici par ATD que la transformation de cet état désordonné dans l'étal cristallin vers 15 K s’accompagne d’un dégagement de chaleur comparable à celui libéré lors de la cristallisation du liquide. Dans ces conditions, l’état désordonné observé peut être considéré comme amorphe et non microcristallisé.

Abstract

Gallium films of some µm of thickness deposed onto substrates cooled at 5 K have disordered structure. In this paper, we show that, using differential thermal analysis, the order of magnitude of the heat of transformation near 15 K from this disordered state to the crystalline one, is comparable to the heat of crystallisation of the liquid. It is concluded that the films prepared in this investigation is not microcrystalline but amorphous.