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J. Chim. Phys.
Volume 80, 1983
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Page(s) | 793 - 797 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jcp/1983800793 | |
Published online | 29 May 2017 |
Study of the atomic distribution in NiO—MoO3/γAl2O3 catalysts by ion scattering spectroscopy (ISS) influence of the experimental conditions
Laboratoire de Catalyse Hétérogène et Homogène, E.R.A. C.N.R.S. n° 458 Université des Sciences et Techniques de Lille 59655 Villeneuve d’Ascq Cedex, France.
The application of ISS in order to investigate the surface composition of a NiO—MoO3/γAl2O3 system is discussed. It is found that the experimental conditions and sample conditioning (in particular, energy of the probe ion, time of 4He+ sputtering, time of degazing) influences the intensity ratio of the elements leading to difficulties in the description of the surface in terms of atomic distribution. Atom shielding effects which origin comes from different atomic radii of the species involved in this study and some contamination are supposed to be the origin of the difficulties in interpretation. Considerations about the shielding effect lead us to the conclusion that there is no bilayer Mo—Ni—Al on our sample.
Résumé
La spectroscopie d’ions rétrodiff usés a été utilisée dans le but de déterminer la distribution atomique à lé surface d’un échantillon NiO—MoO3/γAl2O3. Les conditions expérimentales et le conditionnement de l’échantillon (en particulier, l’énergie des ions incidents, le temps de décapage ionique par 4He+, le temps de “dégazage”) influencent notablement les rapports d’intensité des éléments conduisant à des difficultés dans la description de la surface en terme de distribution atomique. Des effets d’écran provenant des différents rayons ioniques des espèces présentes dans le système et des effets de contamination, sont supposés être à l’origine des difficultés dans l’interprétation. L’analyse des effets d’écran conduit à la conclusion qu’il n’existe pas de bicouche Mo—Ni—Al sur notre échantillon.
© Paris : Société de Chimie Physique, 1983