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J. Chim. Phys.
Volume 86, 1989
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Page(s) | 1607 - 1621 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jcp/1989861607 | |
Published online | 29 May 2017 |
Structures fines d’absorption des rayons X : Étude au seuil K de complexes moléculaires de métaux de transition
1 Laboratoire pour l’utilisation du rayonnement Electromagnétique, CNRS-CEA-MEN, France ;
2 Laboratoire de Spectrochimie des Eléments de Transition, U.A. CNRS 420, Université Paris-Sud, 91405 Orsay, France.
Nous présentons des spectres d’absorption X au seuil K de complexes moléculaires d’éléments de transition. Nous commentons tout d’abord l’influence sur le seuil de divers paramètres : occupation de la couche de valence, symétrie du champ des ligands, structure électronique, distances métal-ligand. Nous utilisons l’approche orbitale moléculaire et diffusion multiple en discutant leur intérêt et leurs limites respectives.
Dans une deuxième partie, nous utilisons cette meilleure compréhension du seuil pour la caractérisation structurale et électronique de nouveaux matériaux possédant des propriétés physiques, chimiques ou catalytiques intéressantes.
Abstract
We present X-ray absorption K edge spectra of molecular complexes of the first period transition elements. In the first section, we comment the relations between edge structures and experimental variables : valence shell occupancy, ligand field symmetry, electronic structure, metal ligands distances. We use molecular orbital and multiple scattering approaches and discuss interest and limitations of both models.
In the second section, we apply the better knowledge of the fine structures of the edge to characterize the stereochemical and electronic structure of new compounds, of interest for their physical, chemical and catalytic properties.
© Paris : Société de Chimie Physique, 1989