Single- and double-strand breaks induced in plasmid DNA irradiated by ultra-soft X-rays

¹ Groupe de Physique des Solides, Universités Paris 7 et Paris 6, CNRS UMR 75-88, 2 place Jussieu, 75251 Paris cedex 05, France
² CNRS UMR 218, LRC 1 du CEA, Institut Curie Section de Recherche, 26 rue d'Ulm, 75248 Paris cedex 05, France

Abstract

In order to investigate the molecular consequences of a carbon K photo-ionization located on DNA, dry pBS plasmid samples were irradiated with ultra-soft X-rays at energies below and above the carbon K-threshold ( eV). Single- and double-strand breaks (ssb and dsb) were quantified after resolution of the three plasmid forms (supercoiled, relaxed circular, linear) by gel electrophoresis. A factor of 1.2 was found between the doses required at 250 eV and 380 eV to induce the same number of dsb per plasmid.

Résumé

Dans le but d'étudier les conséquences à l'échelle moléculaire d'une photo- ionisation en couche K du carbone de l'ADN, des dépots de plasmides ont été irradiés à sec par des X ultra-mous d'énergies situées de part et d'autre du seuil d'ionisation en couche interne du carbone ( eV). Les taux de cassures simple- et double-brin (ssb et dsb) ont été quantifiées après résolution des trois formes de plasmide (surenroulé, circulaire relaché, linéaire) par électrophorèse. Un facteur de 1.2 a été mesuré entre les doses nécessaires à 250 eV et 380 eV pour produire le même nombre de dsb par plasmide.